Relatore:
Davide Appello
- STMicroelectronics
lunedì 2 dicembre 2002
14:30
Il relatore presentera' i problemi della generazione del test di produzione degli odierni ASIC
prodotti da STMicroelectronics. In particolare, verranno descritte le metodologie di test adottate
e i limiti dei modelli di guasto classici in funzione del continuo aumento delle frequenze di
funzionamento degli ASIC.
- Luogo
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Ca' Vignal 1,
Piano terra,
Aula C
- Referente
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Franco
Fummi
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Referente esterno
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- Data pubblicazione
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24 novembre 2002
